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BA-100 X射线荧光镀层测厚仪 G系列
美国博曼(Bowman)BA-100系列 X射线荧光镀层测厚仪 G系列

适用于小五金产品的镀层厚度快速无损测量、元素分析,是一款性价比高的紧凑型X射线荧光镀层测厚仪
可测元素范围广泛,Ti22—U92
成份分析最多可达25种元素
最多可测4层镀层+基材层的镀层厚度

采用预热时间短,长寿命的50W(50KV 1.0mA)微聚焦的W靶X射线管,开机5分钟内即可测量
X射线由下往上
高分辨半导体固态探测器(Si-Pin),提高稳定性和灵敏度,有效区分相邻元素的谱峰
4种规格一次滤波器可自由切换
可配置单准直器系统(仪器型号为BA100-G-S)或多准直器系统(仪器型号为BA100-G-M)
准直器有园形和方形,有着多种规格:Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm、0.05×0.05mm等
30X的高清CCD系统,便于产品放置
焦距由工厂预设,垂直方向上可微调
仅需一根USB线与电脑连接,增强信号的稳定性,有效减少故障率
紧凑式设计,改善效率和精度
模块化设计,方便维修、维护
占用空间小、轻量化设计

基于Net framework框架的Xralizer软件
可采用基本参数法或经验系数法建立镀层测厚和元素分析档案程序
设置直观的图标引导用户界面
拥有快捷的面板操作按钮
镭射辅助聚焦系统能有效避免人员测量误差
设置功能强大的标准片库
强大的报告编辑生成器
拥有灵活的数据显示、数据和图像可以多种格式导出,每个测量点图片均可显示在测量报告中

工作台内部尺寸(宽×深×高):325×270×98mm
仪器外形尺寸(宽×深×高):400×480×350mm
重量:25KG
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