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BA-100 X射线荧光毛细管镀层测厚仪 M系列

美国博曼(Bowman)BA-100系列 X射线荧光毛细管镀层测厚仪 M系列

美国博曼(Bowman) BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪;为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

仪器型号:BA-100-M-uSPOT

仪器采用最前沿的uSPOT多导毛细管技术,实现极小斑点的测量,测量斑点为15um

适用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的镀层厚度测量、材料分析、溶液分析;尤其适用于化学镍金(ENIG)、化学镍钯金(ENEPIG)、化学磷P%的分析

可测元素范围广泛,Al13—U92
成份分析最多可达25种元素
最多可测4层镀层+基材层的镀层厚度

 

采用预热时间短,长寿命的50W(50KV 1.0mA)微聚焦的Mo靶X射线管量
X射线由上往下
高分辨半导体固态探测器(SDD),提高稳定性和灵敏度,有效区分相邻元素的谱峰
采用双摄像头,放大倍数2X--250X、点击鼠标实现广域放大图像 
仅需一根USB线与电脑连接,增强信号的稳定性,有效减少故障率
紧凑式设计,改善效率和精度

样品台开槽式设计适用于大型扁平产品(如:PCB)的测量

样品台程控式移动,XY轴可编程运行

X、Y轴移动行程:165×165mm

载物台有多种规格可供选择:标配350×395mm、(可选)500×500mm、(可选)600×600mm

Z轴程控移动,行程132mm,镭射辅助红点聚焦系统能有效避免人为测量误差


基于Net framework框架的Xralizer软件
可采用基本参数法或经验系数法建立镀层测厚和元素分析档案程序
设置直观的图标引导用户界面
拥有快捷的面板操作按钮
设置功能强大的标准片库
强大的报告编辑生成器
拥有灵活的数据显示、数据和图像可以多种格式导出,每个测量点图片均可显示在测量报告中

工作台内部尺寸(宽×深×高):310×380×140mm
仪器外形尺寸(宽×深×高):450×600×440mm
重量:70Kg

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